Parametric X-ray radiation and texture of polycrystalline foils

Abstract

Текстура поликристаллической фольги вольфрама и никеля изучалась с использованием параметрического рентгеновского излучения (PXR), генерируемого электронами с энергией 7 МэВ. Получены кривые качания PXR из кристаллографических плоскостей (200) для вольфрама и (220) для никеля. Приведено сравнение с аналогичными измерениями, полученными с использованием дифракции широкополосных рентгеновских лучей. Сравнение показало хорошее соответствие результатов, касающихся формы кривых качания и положения максимумов. Однако наблюдалось систематическое несоответствие в значении полного максимума полной ширины.